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![众星10月Highlights-走近EUV行业前沿，探索光刻未来]()
众星10月Highlights-走近EUV行业前沿，探索光刻未来
•FIRST•【研讨学习】荷兰workshop走近EUV行业前沿，探索光刻未来✦•✦✦左右滑动，查看更多✦众星联恒作为本次唯一参加2024 Source Workshop的中国公司，我们有幸与众多行业专家见证了今年在阿姆斯特丹举办的这场EUV/SXR光源研究学术盛会。 欧美日韩的巨头公司和顶级研究机构，在两天紧凑的日程内，分享了众多前沿信息。从等离子体电荷态演变的基础研究，到超快动态等离子体诊
2024-11-01 unistar
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![新品速览-为X射线领域注入新活力]()
新品速览-为X射线领域注入新活力
X射线领域作为科学学界的前沿课题，其发展历程持续地向领域内的科研与从事人员提出新问题与新要求，同时更在不断激发相关仪器制造行业改革创新的蓬勃生命力。我们在此荣幸地向大家介绍近期由三位行业头部制造商推出的新品。期望能更好地、更适配地为各位老师、研究人员、从业人员提供研究助力。随时欢迎感兴趣的伙伴与我们就新品展开交流！科研级CCD相机“Expand Your Vision!’’ 只有致力于创新才能满足
2024-11-01 unistar
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![新一代XSight透镜耦合相机：250nm空间分辨引领科研突破之路]()
新一代XSight透镜耦合相机：250nm空间分辨引领科研突破之路
“客户需求驱动技术进步！” 正是为了满足客户在高分辨率成像领域的迫切需求，我们的合作伙伴捷克RITE (Rigaku Innovative Technologies Europe s.r.o.) 再次突破X射线检测技术的极限！正式推出了新一代Rigaku XSight X射线透镜耦合相机，空间分辨率从400 nm提升至250 nm！XSight相机采用一体化结构设计，小巧紧凑，坚固耐用，易操作易集
2024-11-01 unistar
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![新篇章！瑞士领先的纳米光学器件制造商XRnanotech收购Microworks公司]()
新篇章！瑞士领先的纳米光学器件制造商XRnanotech收购Microworks公司
Breaking News!本月，来自瑞士领先的纳米技术光学器件制造商XRnanotech正式宣布完成对Microworks的收购！这一战略性的举措不仅标志着两家公司在各自领域内的重大突破，更是将XRnanotech在纳米技术领域的开创性进展与Microworks在微米领域的尖端优势进行了完美融合。从此，双方将携手并进，共同突破科技的界限，为全球客户带来从微米到纳米尺度的全方位解决方案。作为XRn
2024-10-28 unistar
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![所见即所得：混合光子计数探测器—您的调光神器]()
所见即所得：混合光子计数探测器—您的调光神器
调光系统结构不紧凑，调光步骤复杂，调光存在安全隐患……你还在用传统的平板探测器调光吗？那你真的有必要知道这款由捷克Advacam公司提供的像素化的小型混合光子计数探测器MiniPIX，它具有单光子灵敏和能量阈值设定等特点，可以同时获得光斑的位置、尺寸和强度分布信息，体积仅有U盘大小，让你从此告别复杂的低灵敏的光路调节。图1 MiniPIX探测器实物图经过多年的市场和实验验证，MiniPIX在实现光
2024-10-18 unistar
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![显微知著，启迪未来 - 2024全国电子显微学学术年会将于东莞盛大召开]()
显微知著，启迪未来 - 2024全国电子显微学学术年会将于东莞盛大召开
CLICK点击蓝字 关注我们在新质生产力创新起主导作用的今天，显微学人以振兴电子显微学事业发展为己任，瞄准国家重大需求和国际前沿科学问题，不断为我国卡脖子难题的攻克贡献中国电子显微学者不可或缺的重要力量。本届电子显微学学术年会将展示显微学相关理论、仪器制造、技术和实验方法的最新进展，意在促进电镜及其他显微学仪器的运行、管理、维护、开放共享，实验平台的建设和发展的交流。众星将在本次大会上带来在EM
2024-10-18 unistar
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![LPP光源紫外波段全谱测量方法]()
LPP光源紫外波段全谱测量方法
IN由液态Sn靶在激光作用下产生极紫外（EUV）光的激光等离子体（LPP）光源，对于纳米光刻至关重要，其远小于DUV光的波长，为实现集成电路的进一步缩放提供了基础。在此过程中，除了产生13.5nm附近（带内，in-band）的特征辐射以外，还会产生诸如VUV, DUV波段的带外（OOB, out-of-band）辐射。大多数的研究聚焦在带内及其附近波段，然而OOB波段的相对（或绝对）强度也十分重要
2024-10-18 unistar
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![新的X射线世界纪录：以4nm的分辨率观察微芯片内部结构]()
新的X射线世界纪录：以4nm的分辨率观察微芯片内部结构
Paul Scherrer Institute (PSI) 的研究人员与洛桑联邦理工学院、苏黎世联邦理工学院和南加州大学合作，利用 X 射线技术取得了重大突破。利用PSI 瑞士光源 SLS 发出的 X 射线，并采用由瑞士XRnanotech公司提供的最外环宽度为30nm，高度为400nm的FZP（菲涅尔波带片）聚焦，以前所未有的高分辨率观察了微芯片内部结构，实现了4nm的图像分辨率，创下了新的世界
2024-10-18 unistar
