双能与相衬成像的完美交响：全新inCiTe 2.0 X射线显微镜的奇妙之旅
我们的合作伙伴加拿大KA Imaging宣布推出其inCiTe 2.0 3D X射线显微CT系统，在上一版本的基础上，2.0版本集成了双能成像和相衬成像功能。双能成像功能可在一次扫描中实现多材料辨别，为航空航天、建筑和安全等行业提供创新的检测解决方案。其先进的相衬成像技术增强了低密度材料和细微变化的分辨率，为成像应用提供了无与伦比的细节和清晰度。
inCiTe 2.0专为工业和研究应用而设计，为无损检测提供高分辨率成像，使其成为传统扫描电子显微镜（SEM）的替代品。
Features
特点
● 模块化设计
● 基于自由空间传播的相衬成像
● 多能量X射线成像
● X射线源电压高达130 kV
● X射线焦点尺寸低至2 µm（最大110 kV）
● 最大放大倍数下像素尺寸为0.8 µm
● 可容纳直径最大300 mm、高度最大200 mm的样品
基于自由空间传播的相衬成像
当传统X射线方法难以处理软组织或聚合物等低密度材料时，相衬成像方法至关重要。而为了捕获X射线的相位信息，往往需要添加专门的光学元件，以便将相移信息转换为探测器上的强度信息，例如光栅干涉仪。
一个更直接的实验方式是通过X射线自由空间传播来产生相位衬度，可以使X射线波前的相位变化（经过样品）在探测器上以强度波动的形式可见，如下图。虽然不需要额外的光学器件，但为了达到好的成像效果，需要足够大的横向空间相干长度（即光源的光斑尺寸要足够小）以及高分辨率探测器。
inCiTe 2.0系统使用KA Imaing 自有专利的非晶硒（a-Se）X射线相机BrillianSe™。
BrillianSe™ 是一种混合型 a-Se/CMOS 探测器，它使用具有高固有空间分辨率的非晶硒将 X 射线光子直接转换为电荷。然后再通过低噪声 CMOS 有源像素传感器 (APS) 直接读取电子信号。这样的话，无需像间接闪烁体方法那样先将 X 射线光子转换为可见光，亦无需减薄转换层以减小光学散射等效应。
BrillianSe™提供了基于8μm像素的高分辨率，又保证了能量高至100keV时的高探测量子效率（DQE）。这些特点使该探测器既可高效地用于高能低通量吸收成像，又可在低密度材料成像时通过同轴相衬增强机制来提升灵敏度。
多能量X射线成像
利用世界上首款便携式的单曝光双能X射线探测器 Reveal™ 35C，得益于KA Imaging 独有的双能专利技术 SpectralDR™，inCiTe 2.0系统可以在一次X射线曝光后，同时提供 DR、高密度和低密度三幅图像。
Reveal™ 35C 具有独特的三层堆叠设计，便于集成，量子效率高。与其他双能解决方案不同，Reveal™35C只需要一次 X 射线曝光，即使用与常规X 光相同的辐射剂量，就能消除运动伪影，实现不同密度材料的区分。
Parameters
技术规格
X射线源
探测器
系统
inCiTe™ 2.0 | |
三维尺寸 | 1800mm H x 1780mm L x 810mm W |
重量 | 1380 kg |
安装要求 | 100-240 VAC, 50-60 Hz |
Applications
应用方向
● 无损检测
● 航空航天部件检验
● 电池分析
● 建筑材料检测
● 学术研究
● 安检
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关于KA imaging
KA Imaging 源自加拿大滑铁卢大学，成立于2015年。作为一家专门开发x射线成像技术和系统的公司，KA Imaging以创新为导向，致力于利用其先进的 X 射线技术为医疗、兽医学和无损检测工业市场提供最佳解决方案。公司拥有独家开发并自有专利的高空间高分辨率非晶硒（a-Se）X射线探测器BrillianSe™，并基于此推出了商业化X射线桌面相衬微米CT inCiTe™ 2.0。
北京众星联恒科技有限公司作为 KA Imaging 在中国地区的授权代理，全面负责 BrillianSe™ 、Reveal™及 inCiTe™ 在中国市场的产品售前咨询，销售以及售后业务。KA Imaging 将对众星联恒提供全面、深度的技术培训和支持，以便更好地服务于中国客户。众星联恒及我们来自全球高科技领域的合作伙伴们将继续为中国广大科研用户及工业用户带来更多创新技术及前沿资讯！
内容 Albus
审核 凯文
编辑 小乔
