X射线分辨率测试卡是测量成像系统成像质量的重要工具，我司可提供各种类型的测试卡以满足您的各种需求。图案类型包括线对、孔阵列和西门子星等。最小图案尺寸低至20nm，面对高能的高分辨X射线应用，我们可以提供厚达3微米的金吸收体，以满足高能高分辨成像系统的测试需求。
同时我们还可以提供用：
于纳米CT体素校准的模体- Voxel-spirit 可实现快速和直观的体素大小校准，Voxel-spirit 甚至可以满足严格的视场 (FOV) 限制和高精度要求 。
遵从ASTM E1695-95的Resolution-spirit 通用模体组，适用于纳米CT和微米CT的空间分辨精密评估。它适用于可变市场限制及高精度的需求。
带有用于 nanoCT 和 microCT 测量的基准标记的样品架-R1-Shadow，可以快速直观地校正旋转台的不准确性和 CT 数据配准，适用于双能量 CT 或 4D CT 等应用。 R1-Shadow 是一种多用途解决方案，适合可变视场 (FOV) 限制和高精度要求。
| 类型 | 图案布局 | 图案规格 | 吸收体类型及厚度 |
| 纳米分辨率测卡XRESRO-20 |  | ①Radial Pattern ③④Hole Pattern⑤⑥⑦⑧L&S Pattern 100nm hole 50nm L&S 20nm Radial patterns | Ta 100nm |
| 纳米分辨率测卡XRESRO-50HC |  | 100nm hole 50nm L&S 50nm Radial patterns | Ta 500nm |
| 纳米分辨率测卡XRESRO-100 |  | 100nm L&S 200nm L&S 400nm L&S 600nm L&S 800nm L&S 100nm Radial patterns | Ta 1000nm |
3D西门子星分辨测试卡 | | 最小细节小于200nm | 结构高度200µm 尺寸Fhi 100µm |
| 显微CT分辨测试卡 |  | 布局由嵌套的L形组成，线宽为: 50 –40 –30 –20 –15 –10 –9 –8 –7 -6 -5 –4 –3 -2 –1.5 -1 –0.9 -0.8 -0.7 –0.6 -0.5 –0.4 –0.35 –0.3 –0.25 –0.2 （微米） | 约1.5µm米厚金 |
Yxlon标准分辨率测试卡 |  | 5.0, 4.0, 3.2, 2.5, 2.0, 1.6, 1.3, 1.0, 0.9, 0.8, 0.7, 0.6, 0.5, 0.45, 0.4, 0.35, 0.3 µm线对 | 3 µm高金 |
NanoXSpot分辨率测试卡 |  | 4象限区域，每个区域4 mm x 4 mm，含两个改良的西门子星，孔阵列（最小孔径5微米），7组有不同方向的线对（12 µm, 10 µm, 8 µm, 6 µm, 5 µm, 4 µm, and 3 µm） | 8 µm高金 |
微纳CT分辨率测试模体 Spirit resolution |
| 球直径: 0.5, 1.0, 2.5, 5.0mm < 1 μm to > 10 μm 体素尺寸CT应用 遵从 ASTM E1695-95 标准 | 红宝石 |
纳米CT体素校准模体 Voxel-Spirit |
| 球直径: 0.3 mm 球距离: 0.45 mm (认证精度: 0.06 μm) <1 μm 体素CT应用 | 红宝石 |
| 微纳CT转台摆动校正样品架 |
| 基准尺寸 [µm]: 25 25 50 100 适用于 Dual-Energy CT or 4D CT | 红宝石 |