直读型软X射线桌面近边X射线吸收精细结构谱仪 200-1200eV/台式XAFS
结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1500极高分辨能力的光谱仪，proXAS是一个实验室级别NEXAFS测量的系统。200-1200eV的能量范围允许分析C，N，O，Ca，Ti等元素边。
- 产地： 德国
- 型号： proXAS
- 品牌： HP Spectroscopy
公司介绍
德国HP Spectroscopy公司成立于2012年，致力于为全球科研及工业领域的客户定制最佳解决方案，是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统，XUV/VUV/X-ray光谱仪，beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作，关注前沿技术，保持产品的迭代与创新。
产品简介
首台一体化桌面NEXAFS系统
不在需要申请和等待同步辐射机时
用于地质、生物、材料研究的化学态分析
同步辐射级的光谱质量
proXAS是一台实验室级别NEXAFS测量的系统。 现在可以在科研人员自己的实验室进行获得快速，准确的元素指纹分析。 它结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1500极高分辨能力的光谱仪。200-1200eV的能量范围允许分析C，N，O，Ca，Ti等元素边。
proXAS可测量的元素范围。
测量结果
左图是用桌面系统测试200nm聚酰亚胺薄膜的碳K边NEXAFS光谱（60发脉冲平均值）。右图为桌面系统测试结果与同步辐射测试结果的对比。 (data courtesy of Dr. K. Mann, IFNANO) | |
proXAS测得的几种有机物的 (a) C K边、(b) Ca L边及 (c) O K边吸收谱 | |
proXAS对4种含铁矿物（针铁矿、赤铁矿、水铁矿和Cca-2绿泥石）的O K边NEXAFS 测量结果（左）与同步辐射同类测试结果（右） | |
proXAS对PMDA-ODA聚酰亚胺的C K边NEXAFS 测量结果（左）与同步辐射同类测试结果（右） | |
proXAS对CeO2的O元素的K边的NEXAFS 测量结果（左），包含同类样品的同步辐射测量结果（右） |
主要参数
光源 | 无碎片的激光驱动 XUV 光源 |
能量范围 | 200-1200eV / 1-6nm |
重复频率 | 25Hz |
光源功率稳定性 | ±1.5% |
光谱仪 | 像差校正平场光谱仪 |
分辨率 | 1500 |
样品安装 | 多样品转轮 |
占地面积 | 1.5m x 1.0m |
软件套件 | 集成系统控制，各种光谱校准和分析功能 |
主要应用
l 表面科学
l 地球化学中的化学状态分析
l 电子结构与氧化态分析
“足不出户，走进XAFS” proXAS高分辨实验室桌面NEXAFS谱仪助力材料化学结构表征分析