一体化硅漂移X射线光谱仪-XRS-A
XRS-A（一体机）在一个紧凑的设备中包含 XRF 光谱仪所需的所有组件，而不会影响性能。 它由带有 ASIC 的密封 SDD 模块以及低噪声前置放大器、电源、珀尔帖控制和数字脉冲处理器DPP组成。主要特点：XRF 光谱仪易于在工业和实验室中用于单个光谱生成以及在mapping模式下操作带有 ASIC 前置放大器的 SDD 模块，适用于高计数率应用在高达 > 1Mcps 的高输入计数率下也具
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XRS-A（一体机）在一个紧凑的设备中包含 XRF 光谱仪所需的所有组件，而不会影响性能。 它由带有 ASIC 的密封 SDD 模块以及低噪声前置放大器、电源、珀尔帖控制和数字脉冲处理器DPP组成。
主要特点：
XRF 光谱仪易于在工业和实验室中用于单个光谱生成以及在mapping模式下操作
带有 ASIC 前置放大器的 SDD 模块，适用于高计数率应用
在高达 > 1Mcps 的高输入计数率下也具有出色的能量分辨率和峰值稳定性
带有检测管的紧凑型外壳，适用于真空室
XRF 探测器窗口选项、铍或 PTW-用于测量低至碳的轻元素
XRS- X射线光谱仪探测头功能结构示意图
不同成峰时间下的能量分辨率
光谱带宽稳定性
光谱峰稳定性
吞吐量性能
用于低能的XRF窗口
SDD芯片及配8微米Be窗的量子效率
名称 | 有效面积 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 准直器 |
XRS-A 30-128-200-BeP MLC | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | 8 μm Be | Ø5.8mm多层膜 |
XRS-A-30-128-200-TPP MLC Complete XRP | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | PTW-TPpro | Ø5.8mm多层膜 |
XRS-A-30-128-200-LSP MLC Complete XRP | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | TW-LSpro | Ø5.8mm多层膜 |
XRS-A-30-128-200-TLP MLC Complete XRP | 30 | 127 eV ± 2eV | 15000 ± 5000 | TW-LSpro | Ø5.8mm多层膜 |
XRS-A-60-128-200-BeP MLC Complete XRP | 60 | 129 eV ± 3eV | 15000 ± 5000 | 12 μm Be | Ø8.1mm多层膜 |
X射线荧光分析
X射线能谱测量