硅漂移X射线光谱仪-用于工业OEM及实验室（XRP）
XRP硅漂移X射线光谱仪是一款紧凑型的设计，非常适合于集成于手持设备或工业设备中。它由一个密封的SDD模块（该SDD基于芯片集成场效应晶体管和低噪声前置放大器），供电电源及DPP组成。主要特性紧凑的高分辨率探测器，便于集成到客户设备可与数字脉冲处理器配套使用压力和温度监测完全可控的SDD模块条件和吸气剂激活选项以延长模块真空寿命
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XRP硅漂移X射线光谱仪是一款紧凑型的设计，非常适合于集成于手持设备或工业设备中。它由一个密封的SDD模块（该SDD基于芯片集成场效应晶体管和低噪声前置放大器），供电电源及DPP组成。
主要参数：
◆有效探测面积：10-30 mm2
◆能量分辨率：127-130 eV FWHM @Mn-Ka，-30°
◆真空密封性：<0.01 mbar
◆窗口材料：Be
主要特性
紧凑的高分辨率探测器，便于集成到客户设备
可与数字脉冲处理器配套使用
压力和温度监测完全可控的SDD模块条件和吸气剂激活选项以延长模块真空寿命
XRP X射线光谱仪探测头功能结构示意图
使用标准DPP测量高达500Kcps吞吐量
超强的抗辐射能力
芯片不同制冷温度下的能力分辨能力
SDD芯片及配8微米Be窗的量子效率
XRP-The XRF Preamplifier Module参数：
名称 | 有效面积 | 能量分辨率 | 峰背比@Mn_K | 窗口材料 | 准直器 |
SDD-10-130-BeP Complete XRP | 10 | 130 eV ± 3eV | 4500 ± 1000 | 8 μm Be | 3.2mm |
SDDplus-10-130p-BeP Complete XRP | 10 | 128 eV ± 3eV | 7500 ± 2500 | 8 μm Be | 3.2mm |
SDDplus-30-128-BeP Complete XRP | 30 | 128 eV ± 3eV | 12500 ± 2500 | 8 μm Be | 5.8mm |
X射线荧光分析
X射线能谱测量