硅漂移X射线光谱仪-用于实验室、科学研究（XRS）

XRS是一套完备的X射线能谱探测系统，由于探测器探头、供电电源及DDP组成，非常适用于工业和实验室的X射线荧光分析等需要X射线能谱测量的应用。单独预先调整的系统参数与正确选择 SDD 模块类型相结合，可在特定应用领域实现最佳性能和可靠性。

主要参数：

◆有效探测面积：10-30 mm2

◆能量分辨率：125-129 eV FWHM @Mn-Ka，-30°

◆真空密封性：<0.01 mbar

◆窗口材料：BE，PTW（低能应用）

主要特点： 

• 与数字脉冲处理器 (DPP) 或模拟整形器一起使用的高分辨率检测器系统

• XRF 窗口选项开放式模块 (OM)、超薄窗口 (UTW)、铍或平面薄窗口 (PTW)，用于检测低至Li的轻元素

• 真空密封探测器鼻子，可轻松适应真空室

• 第二个 Peltier 用于在较高温度下改善散热

• 用于完全可控 SDD 模块条件的压力和温度监控以及用于延长模块真空寿命的吸气剂重新激活选项

  
  

  
  

  
  

XRS X射线光谱仪不同类型平面薄窗口透过率

XRS X射线光谱仪探测头功能结构示意图

不同芯片制冷问题下能量分辨率

使用PTW窗口的、低至C的轻元素探测器性能