高分辨、非晶硒X射线探测器

高分辨率非晶硒X射线探测器

高分辨率,高探测量子效率

  • 产地: 加拿大
  • 型号: BrillianSe™
  • 品牌: KA Imaging

公司介绍:

KA Imaging源自滑铁卢大学,成立于2015年。作为一家专门开发创新x射线成像技术和系统的公司,KA Imaging致力于利用先进X射线技术为医疗、兽医学和无损检测工业市场提供解决方案。

产品介绍:

KA Imaing 自有专利的非晶硒(a-Se)X射线相机BrillianSeTM,专用于高亮度成像。基于高本征空间分辨率的非晶硒(a-Se)光电导器件,a-Se/CMOS混合探测器可将X射线直接转换为电子电荷。电信号再经由低噪声的主动式像素传感器(APS)CMOS读出。相较于基于闪烁体的间接探测方式,我们的直接探测技术无需将X射线先行转换为可见光,亦无需减薄转换层以减小光学散射等效应。BrillianSeTM既提供了基于8μm像素的高分辨率,又保证了能量高至100keV时的高探测量子效率(DQE)。这些特点使该探测器既可高效的用于高能低通量吸收成像,又可在低密度材料成像时通过同轴(无光栅)相称增强机制来提升灵敏度。

凯夫拉尔复合试样

我们使用探测器在几秒钟内快速获取了凯夫拉尔复合材料的相衬图像。 可以清楚看到单根纤维形态(左图)和纤维分层情况(右图)。

北京众星联恒科技有限公司

生物样品

北京众星联恒科技有限公司

电子样品

北京众星联恒科技有限公司



技术参数


系统

描述


芯片类型


Amorphous Selenium with CMOS APS


像素规格


4096 x 4096 pixels


像素间距


8 µm


感光面积


32.8 mm x 32.8 mm


读出噪声


180e (nominal)


动态范围


75 dB


帧率


0.25 - 2 Hz


点扩散

(@60 kVp)

(2 mm Al filtration)


1.1 pixel



System

Description


读出模式


Split rolling shutter (64 slices in parallel)

X射线能量响应范围


13 - 120 keV (untested at<13 keV)

探测量子效率

(@60 kVp)

(2mm Al filtration)

36% at 10 cycles/mm

22% at 45 cycles/mm

10% at 64 cycles/mm


触发模式


Software and hardware


冷却方式


风冷


数据接口


Gigabit Ethernet


供电


12 VDC, 2A

尺寸

204 mm (W) x 207 mm (H) x 87 mm (D)


典型应用

  • 低密度材料相衬成像

  • 同步辐射微纳CT

  • 单光子灵敏 (>50 keV)

  • 高能(>50KeV)相干衍射成像



北京众星联恒科技有限公司BrillianSe-产品资料 (众星联恒)中文.pdf


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