基于8μm高分辨率非晶硒探测器的科研级相衬微米CT
在传统的微米CT中,检测生物组织,聚合物薄膜或纤维复合物等轻质样品时常常会面临的成像对比度较差的问题,这是由于这类低原子序数材料对X射线的吸收截面很低导致的。而相衬成像正是吸收成像的互补,相衬成像是通过探测 X 射线穿过样品后相位的改变来对样品成像,其依赖于相移截面,低原子序数材料的相移截面通常会比吸收截面大3个数量级,因此对这类材料使用相衬成像对比度会更好,如图1。
图1.水和骨头在不同能量下的吸收截面与相移截面对比
为了捕获X射线的相位信息,往往需要添加专门的光学元件,以便将相移信息转换为探测器上的强度信息。使用光栅干涉仪是一个例子,但对于商业化的微米CT,一个更直接的实验方式是通过简单的X射线自由空间传播来产生相位衬度。利用自由空间传播,可以使X射线波前的相位变化(经过样品)在探测器上以强度波动的形式可见,如图2。虽然不需要额外的光学器件,但为了达到好的成像效果,需要足够大的横向空间相干长度(即光源的光斑尺寸要足够小)以及高分辨率探测器。
图2.基于自由空间传播的相衬成像方法
在目前商用的X射线成像探测器中,对于能量高于20 keV的X射线,既要实现高空间分辨率又要有高的探测效率是困难的,而这些性能的兼顾又是基于自由空间传播的相衬成像所迫切需要的。迄今为止报道的混合光子计数型X射线探测器可以使用高原子序数的传感器材料,对硬X射线具有足够高的探测效率(如CdTe,CZT等),但由于读出芯片设计复杂,且需要像素级的电荷灵敏放大器,从而导致该类型探测器具有较大的像素尺寸(通常大于50μm)。基于闪烁体的间接转换X射线探测器,可以使用小像素CMOS有源像素传感器(APS)和放大光学元件来分辨精细特征,但对于大于20 keV的能量来说成像效果不是最佳的。通常闪烁体需要足够薄,保证落在物镜的景深内,才能获得最佳的空间分辨率。与半导体传感器相比,较厚的闪烁体可以提供相同或更好的吸收效率,但会导致内部光学散射增加,从而降低空间分辨率。因此,在吸收效率和闪烁体的空间分辨率之间存在权衡。
非晶硒(a- Se)是一种成熟的大面积热蒸发的光导体,已广泛用于平板X射线成像仪(a-Se/TFT)。非晶硒易于加工成大面积的均匀厚层,具有低漏电流和高电荷收集效率,中等原子序数(Z=34)足以适用于硬X射线成像。最重要的是X射线在非晶硒中被吸收后产生的电荷扩散小,非晶硒具有非常高的本征空间分辨率,如下图3所示。但TFT像素尺寸大,噪声水平较高,因此研究人员想到了用非晶硒耦合CMOS读出器件。
在过去十几年中,滑铁卢大学的科学家利用聚酰亚胺缓冲层突破了a-Se与CMOS结合的技术难题,解决了a-Se/CMOS的界面应变和硒结晶等问题。这里的CMOS读出器件采用电荷积分模式的工作方式,相较于光子计数模式的读出器件,降低了制造成本且可以实现小的像素尺寸。
图3. a-Se/CMOS探测器的量子效率;X射线在非晶硒中产生的电荷扩散区域(右)
KA Imaging公司的技术团队源于滑铁卢大学,基于a-Se/CMOS技术开发了一款1600万像素的直接探测型高空间分辨率X射线探测器—BrillianceSeTM,详见下图4。该探测器利用3T APS设计8μm像素尺寸的CMOS芯片与100μm厚的非晶硒混合。
图4. BrillianceSeTM探测器与性能参数
探测器在阿贡国家实验室先进光源1-BM-B beamline使用单色的21keV、63keV做了详细的性能测试,包扩线性度、响应度、MTF、空间分辨能力等等,部分结果如下图5,图6。
图5. 在1-BM-B beamline 63keV单色光下用斜边法测试MTF,其中PSF仅有1.1 pixel size
图6. 在1-BM-B beamline 21keV单色光下用分辨率测试卡测试分辨率能力
BrillianceSeTM对于高能X射线的高探测效率及高分辨率,完美符合了自由空间传播相衬成像的相机需求。KA Imaging公司利用微焦点光源和BrillianceSeTM搭建了桌面式相衬微米CT—inCiTeTM,如图7所示。除了能进行实现传统的微米CT,inCiTeTM还带有相衬成像的边缘衬度增强效果,非常适合用于农业、地质学、生物、无损检测、电子器件等领域。
图7. 桌面式相衬微米CT—inCiTeTM
inCiTeTM结构紧凑,操作简单,提供一个直观的图形用户界面,无论是新手还是专家用户都能快速上手。不需要任何样品制备,如造影剂,染色,样品减薄等。CT系统能快速自动初始化,且带有样品位置自动校准和相机校准功能。用户首次上电不到20分钟即可扫描样品。扫描系统支持最大10倍的几何放大倍率,即0.8μm的有效像素尺寸,真实分辨率可达1μm左右。下图8-11分别展示了inCiTeTM的几个测试结果,包括凯夫拉复合纤维、光纤、薄膜中的气泡、药品、植物种子、肾结石。
图8. 凯夫拉复合材料样品的相衬图像,在左上图看到单个纤维,在右上图看到纤维分层,下图为3D渲染效果图
图9. 光纤检测(左),可以看见光纤的相衬边缘增强;聚酯薄膜中的气泡检测(右),也可以看见气泡边缘的相衬边缘增强
图10. 埃索美拉唑样品检测,由于相衬增强,药粉颗粒的边缘清晰可见
图11. 甜椒种子检测,左图为不含相衬信息的图像,右图是含相衬信息的图像
图12. 肾结石的微观结构特征检测,左图为实例切片,中图为3D渲染效果图,右图为肾结石照片
【1】Scott C C, Farrier M, Li Y, et al. High-energy micrometre-scale pixel direct conversion X-ray detector. Journal of Synchrotron Radiation, 2021, 28(4): 1081-1089.
【2】Hellier K, Benard E, Scott C C, et al. Recent Progress in the Development of a-Se/CMOS Sensors for X-ray Detection. Quantum Beam Science, 2021, 5(4): 29.
【3】Pil-Ali A, Adnani S, Scott C C, et al. Single-Exposure, Single-Mask, Edge-Illumination X-ray Phase-Contrast Imaging Using a 7.8-µm Pixel Pitch Direct Conversion X-ray Detector. 2021 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC). IEEE, 2021: 1-3.
【4】Pil-Ali A, Adnani S, Scott C C, et al. Direct conversion X-ray detector with micron-scale pixel pitch for edge-illumination and propagation-based X-ray phase-contrast imaging. Sensors, 2022, 22(15): 5890.
KA Imaging
KA Imaging 源自滑铁卢大学,成立于2015年。作为一家专门开发x射线成像技术和系统的公司,KA Imaging以创新为导向,致力于利用其先进的 X 射线技术为医疗、兽医学和无损检测工业市场提供最佳解决方案。公司拥有独家开发并自有专利的高空间高分辨率非晶硒(a-Se)X射线探测器BrillianSeTM,并基于此推出了商业化X射线桌面相衬微米CT inCiTe™。
北京众星联恒科技有限公司作为 KA Imaging 在中国地区的授权代理,全面负责 BrillianSe™ 及 inCiTe™ 在中国市场的产品售前咨询,销售以及售后业务。KA Imaging 将对众星联恒提供全面、深度的技术培训和支持,以便更好地服务于中国客户。众星联恒及我们来自全球高科技领域的合作伙伴们将继续为中国广大科研用户及工业用户带来更多创新技术及前沿资讯!
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文案 Alpha·安
审核 Yee
编辑 凯尔西