KA Imaging高性能、非晶硒X射线探测器交付美国阿贡国家实验室
加拿大 KA Imaging 公司的工程师 Chris Scott 和 Jesse Schmidt 于上周在美国阿贡国家实验室完成了具有其专利技术的非晶硒 X 射线探测器- BrillianSe™的交付及使用培训。
工程师 Jesse 正在进行培训
“对于相干衍射成像（CDI），微米级像素的非晶硒 CMOS 探测器—BrillianSe™ 将专门解决大体积晶体材料中纳米级晶格畸变在能量高于 50 keV 的高分辨率成像。目前可用的像素相对较大的（〜55μm 像素），基于 medipix3 芯片光子计数、像素化、直接探测技术无法轻易支持高能布拉格条纹的分辨率，从而使衍射数据不适用于小晶体的 3D 重建。” 美国阿贡国家实验室先进物理光子源探测器物理小组负责人 Antonino Miceli 博士讲到。
相干 X 射线衍射成像作为新兴的高分辨显微成像方法，摆脱了由成像元件所带来的对成像分辨率的限制，其成像分辨率理论上仅受限于 X 射线的波长。利用第三代同步辐射光源或 X 射线自由电子激光，可实现样品高空间分辨率、高衬度、原位、定量的二维或三维成像，该技术在材料学、生物学及物理学等领域中具有重要的应用前景。作为一种无透镜高分辨、无损成像技术，CDI 对探测器提出了较高的要求：需要探测器有单光子灵敏度、高的探测效率和高的动态范围。目前基于软 X 射线的相干衍射成像研究工作开展得比较多，在这种情况下科研工作者通常选用是的基于全帧芯片的软 X 射线直接探测相机。将 CDI 技术拓展到硬 X 射线领域（>50keV）以获得更高成像分辨率是目前很多科研工作者正在尝试的，同时也对探测器和同步辐射光源提出了更好的要求。而这次交付的非晶硒、高分辨 X 射线探测器（BrillianSe™）能很好的解决的这一问题。
关于 BrillianSe 更多介绍详见之前的推文：“跨向理想 X 射线探测器的一小步-高分辨、非晶硒 X 射线探测器及其应用”
与此同时，加拿大 KA Imaging 公司的技术总监于2021年在 Journal of Synchrotron Radiation 发表了一篇名为“High-energy micrometre-scale pixel direct conversion X-ray detector”的文章，详细地介绍了 BrillianSe 的性能及特点。链接如下：
https://journals.iucr.org/s/issues/2021/04/00/gy5022/index.html
北京众星联恒科技有限公司作为加拿大KA Imaging公司中国区独家授权代理商，全面负责BrillianSe™及inCiTe™在中国市场的产品售前咨询，销售以及售后业务。我司始终致力于为广大科研用户提供专业的EUV、X射线产品及解决方案。如果您有任何问题，欢迎联系我们进行交流和探讨。
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