ESRF网络研讨会-12月14日：ESRF的X射线布拉格衍射成像(“X射线形貌术”)

2021-12-13 09:53:11

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X射线布拉格衍射成像

X射线布拉格衍射成像(又称“X射线形貌术”)是一种独特的表征工具，广泛用于研究各类高质量晶体材料的结构性能以及晶体质量本身的质量和缺陷。

晶体材料的缺陷会对基于该晶体的设备性能有非常大的影响。因此，X射线布拉格衍射成像可很好地应用于包括半导体(如Si、Ge、SiC、GaN)和光学晶体(如石英、蓝宝石、KTP、KTA和LBO)等材料。

ESRF拥有世界上独一无二的同步辐射x射线形貌实验装置，客户群体来自半导体、电力电子、光电子和MEMs等行业。

X射线布拉格衍射成像的一个重要特点是，它在分析大视场（厘米级）下具有对缺陷的高空间分辨率和高灵敏度成像，如位错、夹杂、籽晶生长和层状生长等。通过“摇摆曲线成像”，还可以更好地描述缺陷周围的应变环境，从而更好地理解材料性能。

在本次网络研讨会中，您将了解到成像技术的物理基础，同步辐射形貌术的优势及一些实例说明。

研讨会时间：2021年12月14日 18:00（北京时间）

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