波长色散 X 射线荧光 (WDXRF)
2019-05-09 16:03:53
波长色散 X 射线荧光 (WDXRF)
波长色散 X 射线荧光 (WDXRF) 是用于元素分析应用的两种通用型 X 射线荧光仪器之一。在 WDXRF 光谱仪中，样品中的所有元素同时被激发。样品发射的特性辐射的不同能量被分析晶体或单色仪衍射到不同方向（类似于棱镜将不同颜色的可见光分散到不同方向）。通过将检测仪置于一定角度，可以测量具有一定波长的 X 射线的强度。连续光谱仪使用测角仪上的移动探测器使其移动通过一定的角度范围，以测量许多不同波长的强度。同步光谱仪配有一组固定的检测系统，其中每个系统测量特定元素的辐射。WDXRF 系统的主要优点是高分辨率（通常为 5 - 20 eV）和最小光谱重叠。
X 射线光学晶体可用于增强 WDXRF 仪器。对于常规 XRF 仪器，样品表面典型焦斑尺寸的直径范围从几百微米到几毫米不等。多毛细管聚焦光学晶体从发散 X 射线源收集 X 射线，并将它们引导至样品表面上形成直径小到几十微米的小聚焦光束。由此增加的强度以小焦斑传递到样品，可增强用于小特性分析的空间分辨率和用于微 WDXRF 应用的微量元素测量性能。多毛细管准直光学晶体允许从样品表面上的小光斑有效地收集特性荧光 X 射线，并作为平行光束重新引导至分析平面晶体，以进行能量色散。
相反，可以使用双曲面弯晶单色仪来收集从样品发射的特定荧光，并将其引导至检测仪，而不是使用多毛细管准直光学晶体和平面晶体来进行荧光收集和色散。
此外，可使用两个双曲面弯晶光学晶体进行单色 WDXRF，这种技术对于相关的特定样品元素具有非常高的灵敏度。该技术已成功地应用于 XOS SINDIE 分析仪，用以测定石油中的低硫含量。
