背景:
由于小角散射对电子密度的不均匀性特别敏感,凡是存在纳米尺度的电子不均匀区域的物质均会产生小角散射现象,使其成为该尺度(几纳米到一百纳米)物质结构的重要而理想的工具之一。
核心部件:
光源:Liquid-Metal-Jet (Excillum),Ga靶Kα辐射;
镜片:Montel Optics (Incoatec);
针孔:Scaterless Pinholes (Incoatec);
探测器:Vantec-2000 (Bruker AXS)
图1 SAXS和GISAXS 实验方案示意图
图2 搭配Excillum液态金属流微焦源的Nanostar
实验结果:
图3 正己烷中分散的胶体金纳米粒子的 (a) 小角散射图样和 (b) 平均径向强度分布图
图4 单层金纳米粒子沉积在硅基体上的 (a) 掠入射小角图样和 (b) qy=0.7nm-1时水平截面
图5 (a) 在未拉伸的聚酯薄膜上单层金纳米粒子小角散射图样 (b) 在拉伸18%的聚酯薄膜上单层金纳米粒子的小角散射图样
小结:
该方案实现了通过小角散射(SAXS)和掠入射小角散射(GISAXS)的方式在纳米尺度的过程进行原位监测。