织构分析

使用IµS进行织构测量           Cu-Kα辐射IµS集成与 Bruker AXS GADDS系统，该系统还包含Eulerian cradle与VÅNTEC2000面探测器，以用于YBCO基体中的BaHfO3纳米颗粒的织构测量。在约50分钟内（含所有机械移动与读出时间），此系统可记录gamma范围至65°的极相图。